高精度光纖光譜儀應用領域介紹

　　光纖光譜儀具備檢驗高精度、更快等優勢，已市場應用于農牧業、微生物、有機化學、地質學、食品衛生安全、飽和度測算、環境檢測、醫療衛生、LED檢驗、半導體材料工業生產、石油化工設備等行業。

　　一、發射光譜測量

　　發射光譜測量可以通過不同的實驗布局和波長范圍，以及余弦校正器或積分球來實現。發射光譜可以在UV/可見和可見/近紅外波段進行測量。

　　為了測量發射光譜，該光譜儀可配置在200-400nm或350≤1100 nm波長范圍內，或組合成UV/Visible200-1100 nm。校準后的實驗布局不能改變，如光纖和均衡器等。

　　二、LED測量

　　測量整個LED光通量的簡單、較快的方法是使用一個積分球體，并將其連接到光譜儀上。該系統可以利用鹵素燈進行校準(LS-1-CAL-int)，然后利用相關軟件根據測量到的光譜分布計算相關參數，實現輻射測量。用μW/cm2/nm可以計算、顯示和存儲被測光源的光譜發光強度。另一個窗口還可以顯示大約10個參數：輻射μW≤cm2、μJ≤cm2、μW或μJ;發光通量lux或腔、色軸X、Y、Z、y、y、u、v和色溫。

　　三、薄膜厚度測量

　　光學薄膜厚度測量系統基于白光干涉測量原理，薄膜厚度可測量10 nm-50μm，分辨率為1nm。薄膜測量通常用于半導體晶片的生長過程，因為需要監測等離子體刻蝕和沉積過程;在金屬和玻璃襯底上鍍透明光學薄膜等其他應用也需要測量薄膜的厚度。